کشف خواص الکترونیکی مواد 85 برابر سریع تر شد

پژوهشگران ام آی تی به روشی جدید دست یافته اند که خواص الکترونیکی یک ماده را 85 برابر سریع تر از روش های معمولی مشخص می کند.

به گزارش خبرگزاری علم و فناوری بهار جاودانه به نقل از ام آی تی نیوز، مهندسان موسسه فناوری ماساچوست (ام آی تی) یک تکنیک بینایی کامپیوتری جدید را توسعه داده اند که شناسایی مواد الکترونیکی نوترکیب را تسریع می کند.

دانشمندان از ابزارهای کامپیوتری هوشمند برای کشف مواد جدید استفاده می کنند و در حال توسعه ماشین هایی هستند که می توانند نمونه های زیادی از مواد را در یک زمان بسازند. اما، تا کنون، بررسی مفید بودن این مواد جدید پس از ساخته شدن دشوار بوده است. اکنون، مهندسان ام آی تی به روش جدیدی رسیده اند که به رایانه ها آموزش می دهد با مشاهده تصاویر مواد الکترونیکی جدید بررسی کنند که این مواد نوترکیب تا چه حد کارایی مفید خواهند داشت.

این روش می تواند تصاویر نمونه های نیمه رسانای چاپ شده را تجزیه و تحلیل کند و ویژگی های الکترونیکی حیاتی مانند شکاف باند و پایداری را با سرعت 85 برابر سریع تر از روش های معمولی تخمین بزند.

این پیشرفت، پتانسیل بالایی برای جستجوی مواد کاربردی پیشرفته را دارد که برای بهبود عملکرد سلول های خورشیدی، ترانزیستورها، ال ای دی ها و باتری ها ضروری است. این تکنیک نویدبخش انقلابی در فرآیند غربالگری مواد با ادغام آن با ابزارهای هوش مصنوعی است و راه را برای یک سیستم کاملاً خودکار غربالگری مواد هموار می کند.

هدف کار آینده این تیم استفاده از این تکنیک ها در فضاهای کاربردی گسترده است تا برای توسعه انرژی های تجدیدپذیر و ترانزیستورها راه حل های نوین ارایه دهد.